JEOL Ltd. (presidente y director ejecutivo: Izumi Oi) presenta el nuevo microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa “JCM-7000Plus”, que comenzar a comercializar el 1 de septiembre de 2026.
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[Antecedentes del desarrollo]
Los microscopios electrónicos de barrido de sobremesa se utilizan cada vez más en campos como la ingeniería eléctrica y electrónica, la industria automotriz y de maquinaria, la siderurgia y la metalurgia, así como la industria química y farmacéutica. No solo en investigación y desarrollo, sino también en aplicaciones relacionadas con la fabricación, como el control de calidad y la inspección de productos. Además, se utilizan en entornos educativos, tanto en escuelas secundarias y preparatorias como en universidades. Dada esta diversidad de aplicaciones, existe una creciente demanda de mayor eficiencia operativa, un funcionamiento más sencillo y automatizado, y un mejor rendimiento en materia de observación, análisis y medición.
Como respuesta a estas necesidades, hemos ampliado el voltaje de impacto (en este caso, igual al voltaje de aceleración) a 20 kV, lo que ha mejorado la resolución a 6 nm con la consiguiente capacidad para realizar mediciones con mayor aumento.
En cuanto al software, el nuevo JCM-7000Plus conserva la interfaz gráfica de usuario (GUI) sencilla e intuitiva del actual JCM-7000, incluyendo Zeromag, que permite una transición fluida de la imagen óptica a la observación con SEM, y la función Live Analysis, que permite el análisis elemental en tiempo real durante la observación. Además, se incorpora una función de automatización mejorada, Neo Action.
Además de las tres funciones Live existentes (Live Analysis, Live Map y Live 3D), hemos agregado dos nuevas características: Live Particle, que mide automáticamente el tamaño de partículas y hace un recuento en tiempo real durante la observación, y Live Report, que recopila datos automáticamente y genera informes mientras se desplaza el campo de visión, una característica disponible en los FE-SEM de alta gama. Estas características simplifican las tareas rutinarias, haciéndolas más intuitivas y eficientes, al tiempo que apoyan en gran medida los flujos de trabajo analíticos de los usuarios.
[Características principales]
1. Aumento del voltaje de impacto a 20 kV para una mejor resolución (imagen de electrones secundarios: 6 nm; imagen de electrones retrodispersados: 8 nm)
2. Detector de electrones retrodispersados mejorado para una mayor calidad de imagen
3. La nueva función Live Particle mide el tamaño y hace el recuento de partículas automáticamente, lo que simplifica el flujo de trabajo
4. Live Report permite la adquisición de datos y la creación de informes mientras se desplaza el campo de visión, lo que mejora la eficiencia en el trabajo
5. Se mantiene una interfaz gráfica de usuario sencilla y fácil de usar, con más funciones de automatización para un funcionamiento netamente intuitivo y sencillo
[Objetivo de ventas]
300 unidades al año
[Enlace relacionado]
Información del producto: JCM-7000Plus NeoScope™, microscopio electrónico de barrido de sobremesa https://www.jeol.com/products/scientific/sem/jcm-7000plus.php
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– Business Wire
